光學(xué)基底

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光學(xué)基底通過(guò)降低光楔，Z大限度減少發(fā)射光束的角度偏差和對(duì)準(zhǔn)誤差。表面質(zhì)量高，波前失真小，適用于消色差束采樣等。圓形基板的楔形<10 arc sec,矩形或矩形基板的楔形< arc min低楔形選項(xiàng)：30±5arc min

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光學(xué)器件/探測(cè)器

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產(chǎn)品介紹

無(wú)鍍膜光學(xué)基底

通過(guò)降低光楔，zui大限度減少發(fā)射光束的角度偏差和對(duì)準(zhǔn)誤差。表面質(zhì)量高，波前失真小，適用于消色差束采樣等。圓形基板的楔形<10 arc sec,矩形或矩形基板的楔形< arc min低楔形選項(xiàng)：30±5arc min

大楔形選項(xiàng)：1°或3。鏡片材料：FS和BK-7。傳播波前誤差：λ/10@633nm，表面質(zhì)量10-5。

通光孔徑大于85%，光楔30±5arc min。基底、尺寸和鍍膜均支持定制。

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